簡要描述:日本黑田精工KURODA硅片平整度測量系統(tǒng)同步檢驗表面形狀、背面形狀和平整度!NANOMETRO®TT系列是用于縱向旋轉(zhuǎn)、邊緣夾持式晶圓的平整度測量裝置。邊緣排除區(qū)小1mm,可進行盒至盒的高精度自動測量。評價項目依據(jù)SEMI標準。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細介紹
應用領(lǐng)域 | 地礦,建材,電子,交通,紡織皮革 |
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日本黑田精工KURODA硅片平整度測量系統(tǒng)
同步檢驗表面形狀、背面形狀和平整度!
NANOMETRO®TT系列是用于縱向旋轉(zhuǎn)、邊緣夾持式晶圓的平整度測量裝置。邊緣排除區(qū)小1mm,可進行盒至盒的高精度自動測量。評價項目依據(jù)SEMI標準。
<Edge Roll-off分析>
根據(jù)表面和背面同步檢測得到的放射狀測量結(jié)果,提供符合客戶需求的分析軟件。
項目 | NANOMETRO®300TT | NANOMETRO®200TT |
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量程 | φ300mm | φ200mm |
顯示分辨率 | 1nm | |
測頭 | 非接觸激光位移計 | |
測量方式 | 縱向旋轉(zhuǎn)方式 |
日本黑田精工KURODA硅片平整度測量系統(tǒng)
產(chǎn)品按照標準和生產(chǎn),產(chǎn)品可滿足用于石化、電廠等行業(yè),同時根據(jù)不同的產(chǎn)品也適用于其他行業(yè),改進和擴大提高了自己的產(chǎn)品供給,公司生產(chǎn)的測量系統(tǒng),受到了本國和國內(nèi)外客戶以及市場的青睞,*設(shè)計,壽命超長,性能穩(wěn)定,密封性強,精密鑄造,外觀精美。性質(zhì)穩(wěn)質(zhì),包裝優(yōu)良。
上海韜世工KURODA硅片平整度測量系統(tǒng)等產(chǎn)品,價格合理,使用范圍廣,部分常規(guī)型號有現(xiàn)貨。如需采購可咨詢。我將竭誠為您服務。請您詢問時請備注貴公司營業(yè)執(zhí)照抬頭、連系方式;您需要的品牌型號數(shù)量發(fā)給我們。我們將按順序*時間給您回復報價,歡迎惠顧!
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